FAULTS es un programa que permite refinar los patrones de Difracción de Polvo de Rayos X (XRD) y Difracción de Polvo de Neutrones (NPD) de los sistemas de cristales con cualquier tipo de defecto planar coherente.

El programa está basado en la biblioteca CrysFML (Crystallographic Fortran Modules Library) y en el programa DIFFaX (Difracted Intensities From Faulted Xtals).

El programa DIFFaX permite calcular las intensidades de difracción de los cristales estratificados defectuosos ofreciendo resultados meramente cualitativos. Sin embargo, a veces estos datos no son suficientes para una caracterización microestructural completa.

FAULTS, por su parte, permite realizar refinamientos de los patrones de polvo experimentales (es decir, una comparación computarizada de las intensidades calculadas por DIFFaX con los datos experimentales), así como permite, como lo hace DIFFaX, la simulación de patrones de difracción 2D y vetas difusas en el espacio recíproco para cristales individuales.

Última versión

En la última versión del programa FAULTS se incluyen una serie de nuevas características, como el uso del algoritmo de minimización Levenberg-Marquard (LMA) que permite acelerar considerablemente el tiempo de cálculo.

Otras novedades útiles son la visualización de las estructuras del modelo con FullProf Studio y VESTA, la posibilidad de incluir las intensidades difractadas de las fases secundarias como fondo, el refinamiento de los puntos de fondo cuando se tratan como polinomio o la conversión automática de los archivos de entrada DIFFaX en formato FAULTS mediante el convertidor DIFFaX2FAULTS.

El programa se distribuye con la esperanza de que sea útil, pero SIN NINGUNA GARANTÍA de estar libre de errores internos. En ningún caso los autores (o sus instituciones) serán responsables por daños, incluyendo cualquier daño general, especial, incidental o consecuente que surja del uso o incapacidad de uso de los programas.

Artículos relacionados

Sobre el programa en sí mismo:

  • Casas-Cabanas M., Reynaud M., Rikarte J., Horbach P., Rodríguez-Carvajal J., J. Appl. Cryst. 49, 2016. DOI: 10.1107/S1600576716014473 (an authorised electronic reprint is available for FAULTS users in our Downloads section).
  • FAULTS, a new program for refinement of powder diffraction patterns from layered structures. Casas-Cabanas M., Rodríguez-Carvajal J. and Palacín M.R. Z. Kristallogr. Suppl., 23:243-248, 2006. DOI: 10.1524/9783486992526-042 (article in open access).
  • A general recursion method for calculating diffracted intensities from crystals containing planar faults. Treacy M.M.J., Newsam J.M. and Deem M.W. Proc. R. Soc. Lond. A, 433:499-520, 1991. DOI: 10.1098/rspa.1991.0062.

Ejemplos de estudios de materiales de baterías usando el programa FAULTS:

Autores:

  • Montse Casas-Cabanas (CIC energiGUNE)
  • Marine Reynaud (CIC energiGUNE)
  • Jokin Rikarte (CIC energiGUNE)
  • Pavel Horbach (Institut Laue Langevin)
  • Juan Rodríguez-Carvajal (Institut Laue Langevin)

Contacto:

faults@cicenergigune.com

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