El programa está basado en la biblioteca CrysFML (Crystallographic Fortran Modules Library) y en el programa DIFFaX (Difracted Intensities From Faulted Xtals).
El programa DIFFaX permite calcular las intensidades de difracción de los cristales estratificados defectuosos ofreciendo resultados meramente cualitativos. Sin embargo, a veces estos datos no son suficientes para una caracterización microestructural completa.
FAULTS, por su parte, permite realizar refinamientos de los patrones de polvo experimentales (es decir, una comparación computarizada de las intensidades calculadas por DIFFaX con los datos experimentales), así como permite, como lo hace DIFFaX, la simulación de patrones de difracción 2D y vetas difusas en el espacio recíproco para cristales individuales.
Última versión
En la última versión del programa FAULTS se incluyen una serie de nuevas características, como el uso del algoritmo de minimización Levenberg-Marquard (LMA) que permite acelerar considerablemente el tiempo de cálculo.
Otras novedades útiles son la visualización de las estructuras del modelo con FullProf Studio y VESTA, la posibilidad de incluir las intensidades difractadas de las fases secundarias como fondo, el refinamiento de los puntos de fondo cuando se tratan como polinomio o la conversión automática de los archivos de entrada DIFFaX en formato FAULTS mediante el convertidor DIFFaX2FAULTS.
El programa se distribuye con la esperanza de que sea útil, pero SIN NINGUNA GARANTÍA de estar libre de errores internos. En ningún caso los autores (o sus instituciones) serán responsables por daños, incluyendo cualquier daño general, especial, incidental o consecuente que surja del uso o incapacidad de uso de los programas.
Artículos relacionados
Sobre el programa en sí mismo:
- Casas-Cabanas M., Reynaud M., Rikarte J., Horbach P., Rodríguez-Carvajal J., J. Appl. Cryst. 49, 2016. DOI: 10.1107/S1600576716014473 (an authorised electronic reprint is available for FAULTS users in our Downloads section).
- FAULTS, a new program for refinement of powder diffraction patterns from layered structures. Casas-Cabanas M., Rodríguez-Carvajal J. and Palacín M.R. Z. Kristallogr. Suppl., 23:243-248, 2006. DOI: 10.1524/9783486992526-042 (article in open access).
- A general recursion method for calculating diffracted intensities from crystals containing planar faults. Treacy M.M.J., Newsam J.M. and Deem M.W. Proc. R. Soc. Lond. A, 433:499-520, 1991. DOI: 10.1098/rspa.1991.0062.
Ejemplos de estudios de materiales de baterías usando el programa FAULTS:
- Coulombic self-ordering upon charging a large-capacity layered cathode material for rechargeable batteries Benoit Mortemard de Boisse;Marine Reynaud;Jiangtao Ma;Jun Kikkawa;Shin-ichi Nishimura;Montse Casas-Cabanas;Claude Delmas;Masashi Okubo;Atsuo Yamada
- Enhanced electrochemical performance of Li-rich cathode materials through microstructural control Jon Serrano-Sevillano;Marine Reynaud;Amaia Saracibar;Thomas Altantzis;Sara Bals;Gustaaf van Tendeloo;Montse Casas-Cabanas
- Order and disorder in NMC layered materials: a FAULTS simulation analysis Marine Reynaud;Montse Casas-Cabanas
- Novel Complex Stacking of Fully-Ordered Transition Metal Layers in Li4FeSbO6 Materials Eric McCalla;Artem Abakumov;Gwenaelle Rousse;Marine Reynaud;Moulay Tahar Sougrati;Bojan Budic;Abdelfattah Mahmoud;Robert Dominko;Gustaaf Van Tendeloo;Raphael P. Hermann;Jean-Marie Tarascon
Autores:
- Montse Casas-Cabanas (CIC energiGUNE)
- Marine Reynaud (CIC energiGUNE)
- Jokin Rikarte (CIC energiGUNE)
- Pavel Horbach (Institut Laue Langevin)
- Juan Rodríguez-Carvajal (Institut Laue Langevin)
