FAULTS programa bat da, eta aukera ematen du kristal-sistemetako x izpien hauts-difrakzioaren (XRD) eta Neutroien polbo-difrakzioaren (NPD) patroiak fintzeko, edozein motatako akats planar koherente izanda ere.

Programa CrysFML liburutegian (Crystallographic Fortran Modules Library) eta DIFFaX programan (Difracted Intensities From Faulted Xtals) oinarrituta dago. Azken hori kristal geruzatuen difrakzio-intentsitate akastunak kalkulatzeaz arduratzen da, eta emaitza kualitatibo hutsak eskaintzen ditu. Hala ere, batzuetan datu horiek ez dira nahikoak mikroegituraren karakterizazio zehatza egiteko.

FAULTSek, bere aldetik, kode bat sortzen du DIFFaxek kalkulatutako intentsitateen eta datu esperimentalen arteko konparazio konputazionizatuaren emaitza gisa, eta, gainera, DIFFaxek bezala, 2D difrakzio-patroien eta kristal sinpleetarako elkarrekiko espazioan marra barreiatuen simulazioa ahalbidetzen du.

Azken bertsioa

FAULTS programaren azken bertsioan ezaugarri berri batzuk sartu dira, hala nola Levenberg-Marquard (LMA) minimizazio-algoritmoaren erabilera, kalkulu-denbora nabarmen bizkortzea ahalbidetzen duena.

Beste berrikuntza erabilgarri batzuk hauek dira: FullProf Studio eta VESTA duen ereduaren egiturak bistaratzea, bigarren faseetako intentsitate difraktatuak funts gisa sartzeko aukera, polinomio gisa tratatzen direnean hondoko puntuak fintzea edo DIFFaX sarrera-fitxategiak FAULTS formatuan automatikoki bihurtzea DIFFaX2FAULTS bihurgailuaren bidez.

Programa erabilgarria izango delakoan banatzen da, baina ez du bermatzen barne-akatsik izango ez duenik. Egileak (edo haien erakundeak) ez dira, inola ere, kalteen erantzule izango, programen erabilerak edo erabiltzeko ezintasunak eragindako edozein kalte orokor, berezi, intzidental edo kontsekuente barne.

Erlazionaturiko artikuluak

Programari buruz: 

 
  • Casas-Cabanas M., Reynaud M., Rikarte J., Horbach P., Rodríguez-Carvajal J., J. Appl. 49, 2016. DOI: 10.1107/S1600576716014473 (an authorised electronic reprint is available for FAULTS users in our Downloads section).
  • FAULTS, a new program for refinement of powder diffraction patterns from layered structures. Casas-Cabanas M., Rodríguez-Carvajal J. and Palacín M.R. Z. Kristallogr. Suppl., 23:243-248, 2006. DOI: 10.1524/9783486992526-042 (article in open access).
  • A general recursion method for calculating diffracted intensities from crystals containing planar faults. Treacy M.M.J., Newsam J.M. and Deem M.W. Proc. R. Soc. Lond. A, 433:499-520, 1991. DOI: 10.1098/rspa.1991.0062.

FAULTS programa erabiliz baterien materialei buruz egindako azterlanen adibideak:

Egileak:

  • Montse Casas-Cabanas (CIC energiGUNE)
  • Marine Reynaud (CIC energiGUNE)
  • Jokin Rikarte (CIC energiGUNE)
  • Pavel Horbach (Institut Laue Langevin)
  • Juan Rodríguez-Carvajal (Institut Laue Langevin)

Kontaktua:

faults@cicenergigune.com

Erlazionaturiko dokumentuak