FRANCISCO JAVIER BONILLA

FRANCISCO JAVIER BONILLA

RESPONSABLE DE PLATAFORMA

Descripción

La Plataforma de Microscopía Electrónica es el centro de caracterización microestructural de los materiales investigados en el CIC energiGUNE. En la plataforma se combinan la alta resolución espacial, la difracción de electrones y la adquisición simultánea de datos espectroscópicos para estudiar a nivel atómico los desarrollos estructurales inducidos bajo reacciones electroquímicas ex-situ, así como para orientar la síntesis de nuevos materiales para el almacenamiento de energía térmica o eléctrica.

La plataforma ofrece diferentes técnicas de medición como la microscopía electrónica de barrido (SEM) y en transmisión (TEM). Adicionalmente, cuenta con servicio de preparación de muestras que reúne equipos de pulimiento mecánico, pulimiento iónico,  recubrimientos delgados de oro y carbono, y de limpieza de muestras en atmosfera de plasma Ar/O2. Entre los diferentes equipos de preparación, cabe destacar el pulidor iónico IM4000-plus para el seccionamiento de muestras y el pulimiento de superficies rugosas. Gracias a este equipo es posible obtener superficies planas y ultralisas para el estudio de propiedades en escala submicrométricas por diferentes técnicas de microscopía electrónica.

La Plataforma de Microscopía Electrónica ofrece sus servicios a diferentes grupos de investigación del CIC energiGUNE e igualmente a usuarios externos como lo son otros centros de investigación, organismos públicos o empresas privadas.

Instrumentación

  • TEM : TECNAI G2 F20 S-TWIN (THERMOFISCHER)

    TEM : TECNAI G2 F20 S-TWIN (THERMOFISCHER)

    El TECNAI G2 F20 S-TWIN es un microscopio TEM/STEM de alta resolución con cañón de emisión de campo (FEG) y con aceleración de electrones hasta los 200 keV. Es un microscopio versátil que permite estudiar una amplia variedad materiales sólidos como cerámicos, polímeros, orgánicos entre otros. Una característica clave de este microscopio es la baja dispersión de energía del haz de electrones (0,7 eV@200kV o menos) que, combinada con la lente de objetivo tipo SuperTwin, permite la obtención de imágenes con resolución atómica.

  • SEM: QUANTA 200FEG (THERMOFISCHER)

    SEM: QUANTA 200FEG (THERMOFISCHER)

    El Quanta 200FEG es un microscopio de barrido de alta resolución con cañón de emisión de campo (FEG) capaz de funcionar en 3 modos diferentes: alto vacío, presión variable y modo ambiental. Los voltajes de trabajo de este microscopio varían entre 3kV (modo de bajo vacío) y 30 kV (modo de alto vacío). Gracias a estas características es posible analizar muestras no conductoras y/o sensibles al haz de electrones, así como muestras orgánicas que requieren un nivel mínimo de presión de vapor del agua. La combinación de la emisión de campo térmico de alta salida (> 100nA de corriente de haz) con una alta sensibilidad (18 mm) permite obtener una resolución final de hasta 3-5 nm. El Quanta 200FEG cuenta con diferentes detectores, entre ellos un detector de electrones retrodispersados que brinda imágenes con contraste atómico de las muestras. Una clave adicional de este microscopio es su cámara de transferencia para muestras sensibles al aire (de la compañía Gatan) que permite estudiar materiales basados en Li y Na y cualquier tipo de material sensible a la humedad o al oxígeno de la atmósfera.

  • ION MILLING : IM4000 PLUS (HITACHI)

    ION MILLING : IM4000 PLUS (HITACHI)

    El pulidor iónico IM4000Plus utiliza un método de bombardeo de iones de argón acelerados para producir cortes transversales ultralisos o superficies planas, esto sin aplicar tensión mecánica a la muestra. La gama de materiales y muestras que pueden prepararse mediante esta técnica va más allá de los materiales duros. De hecho, gracias a los modos adicionales instalados en el equipo; unidad criogénica y cámara de transferencia para materiales sensibles, se pueden lograr pulimientos de alta calidad con muestras "blandas" como papel, polímeros y polvos.

Servicios

  • Imágenes SEM por electrones retrodispersados, secundarios y transmitidos
  • Imágenes SEM en modo ambiental, SEM de bajo y alto vacío
  • Análisis SEM de muestras sensibles al aire
  • Análisis elemental SEM-EDX semicuantitativo y mapeo elemental
  • Imágenes de alta resolución TEM
  • Análisis elemental TEM-EDX semicuantitativo
  • Análisis TEM hasta -80ºC
  • Imágenes de alta resolución del HAADF STEM
  • Imágenes TEM de campo claro/oscuro
  • Análisis elemental STEM-EDX semicuantitativo y mçapeo elemental
  • Difracción de electrones por TEM
  • Preparación de muestras para SEM y TEM: recubrimiento de oro y carbono, embebido en resina, cortes con disco e hilo de diamante, pulimiento mecánico, pulimiento iónico, limpieza por plasma Ar/O2, microscopía óptica
  • Diferentes modos de preparación con pulidor iónico: aplanamiento de superficies, seccionamiento de muestras diferentes composiciones y durezas, seccionamiento a bajas temperaturas para muestras sensibles a la atmósfera